Plus-values apportées à découvrir sur notre stand N2 au salon Enova Paris du 19 au 21 septembre 2017 :

  • Forte réduction des investissements NRE
  • Location de la baie de test fonctionnel à la seconde d’utilisation
  • Possibilité de rajouter des produits en se limitant au coût du prix de l’interface du posage mécanique
  • En cas de re-routage, seule la partie mécanique du banc est à remplacer.
  • Possibilité de modifier les limites de test, l’ordre des tests
  • Possibilité de rajouter ou d’enlever des tests
  • Traçabilité de toutes ces évolutions (fichier profil indicé)
  • Fonctions standard de nos baies génériques :
  • Programmations automatique des microprocesseurs connus par ALTRICS (ST, Microship, Nordic, Renessas, Atmel) en version de soft suivie et tracée, les autres sur demande.
  • Mesures de tensions internes et consommations de courant
  • Test fonctionnels simples (activation d’entrée, lectures d’état de sortie en TOR (contact sec) ou mesure analogiques
  • Enregistrement de tous les résultats de test
  • Marquage automatique des cartes testées conformes (en option suivant compatibilité de la carte)
  • Contrôle de la conformité des étiquettes d’identification (code 2D)

Descriptif de la solution de test :

Le système est composé de 3 éléments :

PC (intégré dans la baie) de gestion sur lequel se trouve le logiciel de test, constitué de :

  • 1 moteur générique
  • 1 fichier de configuration de banc
  • 1 fichier séquence de test par produit
  • 1 interface de communication avec la baie électronique
  • Des interfaces de communication standard au produits testés (RS232, RS483, TTL, can bus, I2C) sous conditions d’avoir le descriptif très précis des trames utilisées)

Baie électronique générique, constitué de :

  • Alimentations AC et DC réglable
  • Appareil de mesure multi canaux (centrale d’acquisition)
  • Relayages divers pour piloter les actionneurs spécifiques
  • Une matrice de relayage vers l’appareil de mesure
  • Une connectique d’interfaçage avec les posages

1 ou plusieurs posages de test constitués de :

  • Une connectique d’interfaçage vers la baie
  • Les éléments spécifiques au produit ou devant se situer au près (charges, simulation de sondes, programmateur, etc.)
  • Un lit à clou par référence de carte testée
  • Mutualisation possible en mettant plusieurs références de cartes sur le même posage